Microscope à force atomique

Microscope à force atomique (AFM)


Description

• Le NaioAFM est le microscope à force atomique idéal pour l’observation de la topographie des surfaces de couches minces.

• Ce système AFM tout-en-un offre une manipulation facile et une bonne résolution (de l’ordre du nanomètre).

•Il permet d’observer tout type d’échantillon (conducteur ou isolant).

Prestation et expertise à offrir

• Détermination de la topographie de la Etude des matériaux surface des couches minces à l’échelle nanométrique, soit en mode contact soit en mode vibrant.

• Réalisation de la nanolithographie et la nanomanipulation en intégrant un module approprié.

Domaine d'utilisation

Etude des matériaux